白光干涉儀的作用，可以進行膜厚測量，溝槽測量，翹曲分析，表面粗糙度測量，表面高度及盲孔測量，樣品表面圖案尺寸測量等。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體，光學(xué)器件，太陽能電池，MEMS，生命科學(xué)，材料學(xué)等行業(yè)。
Conductive AFM (cAFM) — 導(dǎo)電原子力顯微鏡（CAFM）是一種源自接觸AFM的二次成像模式，它表征了中到低導(dǎo)電和半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電率變化。CAFM的電流范圍為pA至μA。
Bruker M4 Tornado 微區(qū)X射線熒光光譜儀是樣品成分分析、成分分布規(guī)律研究的新利器。
布魯克元素分析產(chǎn)品選型指南
是利用物質(zhì)在火花激發(fā)下，檢測器通過檢測不同元素的特征譜線，而進行元素的定性與定量分析的。
地質(zhì)礦石樣品多種多樣，手持式熒光光譜儀在應(yīng)對不同的樣品時有著不同的測試方法。
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