XMS是一款適用于工業自動化的在線式X射線熒光分析儀,具有快速數據采集和分析能力,能夠幫助.....
能夠快速而準確的完成元素定性/定量分析,適用于多種環境,包括合金分析、PMI材質分析,礦石.....
TRACER 5g科研手持XRF光譜儀采用了一個帶有1μm石墨烯窗口的新探測器,石墨烯窗口.....
微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、.....
TXRF全反射X射線熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進.....
M4 TORNADO PLUS 微區X射線熒光成像光譜儀是能夠檢測出C(6)-Am(95).....
便攜式XRF分析儀適用于在實驗室內外檢測固體,粉末和液體.雖然手持式XRF輕便靈活,適合進.....
Dektak Pro是布魯克新發布的一款的探針式輪廓儀/臺階儀,基于第十一代Dektak?.....
ContourX系列中的高效能白光干涉儀,配備自動XYZ樣品臺、查找表面功能、拼接及大范圍.....
布魯克白光干涉儀,適用于研究和生產的自校準、具備全自動解決方案的三維光學輪廓系統
無損、快速、準確的對各種合金材料進行金屬元素的定性和定量分析,并快速識別合金牌號。
能夠實現嚴苛的納米水平表面測量,提供更高的重復性和分辨率,不論是性能、易用性還是價格都更具.....
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