品/硅片表面形貌測量/薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測儀/1901804-11304787890-wm.jpg)
薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測儀
光學(xué)設(shè)計減少圖形襯底對激光的干涉。
布魯克 Delta-X 多功能X射線衍射儀/反射儀 XRD
提供科研開發(fā)工作所需的各種X射線測試解決方案
布魯克 JV-QC3 高分辨率X射線衍射儀 XRD
JV-QC3 高分辨率X射線衍射儀是布魯克半導(dǎo)體部門新推出的專為化合物半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)所設(shè)計的半.....
品/硅片表面形貌測量/連續(xù)式四探針片電阻及光學(xué)膜厚測量設(shè)備/1901803-11210473798-wm.jpg)
連續(xù)式四探針片電阻及光學(xué)膜厚測量設(shè)備
連續(xù)式四探針片電阻及光學(xué)膜厚測量設(shè)備設(shè)計, 片電阻不受針尖距離影響多種型號以供選擇
品/電學(xué)特性/電學(xué)特性滾動-11451754846-wm.jpg)
電學(xué)特性
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漆膜附著力測試
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