元素分析
表面分析
太陽能/半導體
通用儀器耗材及檢測服務
光學設計減少圖形襯底對激光的干涉。
連續式四探針片電阻及光學膜厚測量設備設計, 片電阻不受針尖距離影響多種型號以供選擇
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